• Messtechnik: Multi-Sonden-Verfahren bzw. multi-spektrales Mapping/Imaging von Oberflächenkenngrößen: Nano – Mikro – Makro
  • Modifizierung: additive/subtraktive plasma- und nass-chemische Verfahren: Funktions-/Schutzschichten, Muster, Merkmale, partikuläre Systeme
  • Charakterisierung generischer (Oberflächentopographie, Oberflächenenergie, Schichtdicke, Schichtmorphologie, Schichtgradienten) sowie Systemkenngrößen (Haft- und Verbundfestigkeit, Grenzflächenspannung) von Schicht-/Substratsystemen
  • Charakterisierung mechanisch-technologischer, optischer und chemisch-struktureller Oberflächen-/Schichtkenngrößen
  • Bewertung von Beanspruchungs-, Schädigungs- und Versagensmechanismen

Weiterführende Informationen