• Quantitative Analyse von Röntgenpulverdiffraktogrammen (Rietveld-Methode) und Paarverteilungsfunktionsanalyse (PDF))
  • Röntgenkleinwinkelstreuung und -beugung mittels Synchrotron Strahlung (in situ, ex situ): Untersuchung von Materialien auf verschiedenen Größenskalen
  • Bestimmung und Verfeinerung von Kristallstrukturen
  • Festkörper-NMR
  • Synchrotron-XRF, -Micro-XRF, -Total-Reflektion-XRF, double-dispersive-XRF, „on-the-fly“-XRF, standard-XAFS, Micro-XAFS, dispersive-XAFS, Grazing-Exit-XRF+XAFS
  • Oberflächen- und Porenanalyse von porösen Festkörpern und Nanomaterialien
  • Charakterisierung von Polymeren und Copolymeren hinsichtlich Größe, mittlerer Molmasse, Größen- und Molmassenverteilung, Endgruppen und chemischer Heterogenität

Weiterführende Informationen