01.01.2018

Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen von Nanopartikeln

Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen von Nanopartikeln

Quelle: BAM

Projektlaufzeit

01.01.2018 - 31.12.2021

Projektart

EU Projekt

Projektstatus

Laufend

Kurzbeschreibung

This project will develop methods, reference materials and modelling to improve the traceability chain, comparability and compatibility of nanoparticle size measurements to support standardisation within the framework of CEN/TC 352 'Nanotechnologies', ISO/TC 229 ‘Nanotechnologies’, ISO/TC 24/SC 4 ‘Particle characterization’ and ISO/TC 201/SC 9 ‘Scanning probe microscopy’.

Ort

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Unter den Eichen 87
12205 Berlin