Projektlaufzeit
01.07.2019 - 30.06.2022
Projektart
EU Projekt
Projektstatus
Laufend
Kurzbeschreibung
NanoXSpot ist ein von der EC gefördertes Verbundforschungsprojekt, das rückführbare Messmethoden zur Bestimmung der Größe, Form und Position von Brennflecken in Röntgenröhren mit Abmessungen bis 100 nm entwickelt.
Ort
Bundesanstalt für Materialforschung
und -prüfung (BAM)
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
NanoXSpot - Measurement of the focal spot size of X-ray tubes with spot sizes down to 100 nm
Röntgenbasierte Computertomographie-Systeme (CT-Systeme) werden zunehmend in der Luft- und Raumfahrt sowie in der Medizintechnik zur zerstörungsfreien Prüfung und zur Bewertung von Defekten und inneren Strukturen eingesetzt. Diese Branchen benötigen Bildauflösungen im Nanometerbereich.
Das übergeordnete Ziel des Projekts ist die Entwicklung einer rückführbaren Methode zur Messung von Brennfleckgrößen im Nanometerbereich und das Erarbeiten eines Normentwurfs für CEN/TC/138 WG 1.
Weitere Infos zu NanoXSpot finden Sie auf unserer englischen Homepage.