Der Fachbereich Mikro-Zerstörungsfreie Prüfung (ZfP) entwickelt und bewertet zerstörungsfreie Prüfverfahren für den Nachweis von Strukturen und Fehlern im Mikrometerbereich und darunter. Das wird durch den Einsatz von höchstaufgelösten bildgebenden Röntgenmethoden sowie einer quantitativen 3D-Charakterisierung der Materialienmikrostruktur realisiert.

Wir bieten dazu besondere Kompetenzen in der Computertomographie und der Röntgenstreuung, die die industrielle und akademische Landschaft ergänzen, bedienen und unikal im Feld sind. Mit der Erweiterung der zerstörungsfreien Prüfung von den klassischen Schwerbauteilen zu miniaturisierten Komponenten aus Leichtmaterialien entwickeln wir neue Methoden (z. B. Talbot-Lau-Gitterinterferometrie). Außerdem ist Materialcharakterisierung das Stichwort für die Entwicklung von Kompetenzen und Apparaturen wie Zug- oder Hochtemperaturversuche in CT und Refraktionsgeräten.

Darüber hinaus befassen wir uns mit der Spannungsanalyse mittels Neutronenbeugung, womit Schädigungsmechanismen in verschiedenen Werkstoffen untersucht werden.

Prof. Dr./I. Giovanni Bruno, Leiter Fachbereich Mikro-Zerstörungsfreie Prüfung (ZFP) der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Kontakt Prof. Dr./I. Gio­van­ni Bru­no

Leiter Fachbereich 8.5

Unter den Eichen 87
12205 Berlin

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