Der Fachbereich Oberflächen- und Dünnschichtanalyse betreibt die Entwicklung und Anwendung von fortgeschrittenen Methoden der bildgebenden chemischen Mikrobereichs- und Oberflächenanalytik in allen Anwendungsfeldern der Oberflächentechnologie und Materialentwicklung. Diese Analytik wird skalenübergreifend (10 nm – einige 10 µm) bereitgestellt.

Im Rahmen der Aufgabe „Metrologie in der Chemie“ werden neue Ansätze zur Herstellung von Rückführungsketten verfolgt. Das Qualitätsmanagement im Bereich dieser Analytik wird durch metrologiebezogene und pränormative Forschung, Normenentwicklung und -pflege, Organisation von Ringversuchen und Workshops sowie die Bereitstellung von zertifizierten Referenzmaterialen weiterentwickelt.

Die Weiterbildung von Fachkräften auf dem Gebiet der Mikrobereichs- und Oberflächenanalytik wird durch die Ermöglichung von Promotionsarbeiten (gemeinsam mit Universitäten) und PostDoc-Aufenthalten unterstützt.

Projekte

Graphene: Europe in the Lead Coordination and Support Action

ACCORDs - Green deal inspired correlative imaging-based characterization for safety profiling of 2D materials

Weiterführende Informationen

Dr.-Ing. Vasile-Dan Hodoroaba, Fachbereich Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Kontakt Dr.-Ing. Va­si­le-Dan Hodoroaba