Position

Wissenschaftliche/r Mitarbeiter/in der Fachrichtungen Chemie, Physik, Material- oder Nanowissenschaften

Bewerbungsfrist

15.11.2017

Kennziffer

223/17-6.1

Vergütung

TVöD

Befristung

unbefristet

Ort


Unter den Eichen 87
12205 Berlin

Fachbereich Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie

Zur Verstärkung unseres Teams im Fachbereich „Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie“ in Berlin-Steglitz suchen wir zum nächstmöglichen Zeitpunkt eine/n

Wissenschaftliche/n Mitarbeiter/in
der Fachrichtungen Chemie, Physik, Material- oder Nanowissenschaften

Entgeltgruppe 14 TVöD
unbefristet
Vollzeit / teilzeitgeeignet

Werden Sie Teil unseres Teams von engagierten Mitarbeiterinnen und Mitarbeitern!

Ihre Aufgaben:

- Selbständige und verantwortliche Entwicklung und Anwendung von neuen Methoden der Oberflächenanalytik mit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS, ION TOF TOF-SIMS IV) und Auger-Elektronenspektroskopie (AES, PHI 700)) im Rahmen des Themenfeldes „Analytical Sciences“
- Eigenverantwortliche Einwerbung und Durchführung von F&E-Projekten sowie Mitarbeit in der Surface Analysis Working Group der internationalen Meterkonvention (CCOM/BIPM) und im Europäischen Metrologieprogramm EMPIR
- Mitarbeit im Bereich der o.g. Analyseverfahren sowie der entsprechenden Normung (DIN, ISO)
- Prüfleiter im akkreditierten (ISO 17025) Prüflabor, Entwicklung und Pflege von Standardarbeitsanweisungen, Geräteverantwortung einschließlich Instandhaltung für die AES und SIMS Größtgeräte im Fachbereich sowie die Akquisition und Bearbeitung von externen und internen Prüfaufträgen
- Dokumentation der Forschungsergebnisse in Form von Berichten, Publikationen sowie Präsentationen und Mitwirkung im fachübergreifenden Austausch auf internationaler Ebene

Ihre Qualifikationen:

- Erfolgreich abgeschlossenes wissenschaftliches Hochschulstudium (Master oder Diplom) der Fachrichtungen Chemie, Physik, Material- oder Nanowissenschaften sowie eine einschlägige Promotion sowie Berufserfahrung
- Vertiefte Kenntnisse in der Anwendung von Sekundärionen-Massenspektroskopie und /oder Auger-Elektronenspektroskopie mit den o.g. Geräten sowie übergreifende Kenntnisse in chemischer Oberflächenanalytik und der entsprechenden Metrologie
- Publikationen im relevanten Forschungsgebiet sowie sehr gute Präsentationsfähigkeiten
- Erfahrungen im Management von Drittmittelprojekten und Einwerben von Drittmitteln
- Gute englische Sprachkenntnisse
- Selbständige und eigenverantwortliche Arbeitsweise, hohes Engagement, Teamfähigkeit, Organisations-und Kommunikationsfähigkeit mit internen und externen Partnern sowie Engagement


Unsere Leistungen:

- Interdisziplinäre Forschung an der Schnittstelle zu Politik, Wirtschaft und Gesellschaft
- Arbeit in nationalen und internationalen Netzwerken mit Universitäten, Forschungseinrichtungen und Industrieunternehmen
- Hervorragende Ausstattung und Infrastruktur
- Chancengleichheit

Ihre Bewerbung:
Eine Bewerbung per E-Mail ist erwünscht. Bitte senden Sie diese bis zum 15.11.2017 unter Angabe der Kennziffer 223/17-6.1 an: bewerbung@bam.de. Der E-Mail fügen Sie bitte Ihre aussagekräftigen Bewerbungsunterlagen in Form einer zusammengefassten Datei im PDF-Format (max. 20 MB) bei. Alternativ können Sie Ihre Bewerbung auch per Post an folgende Anschrift senden:

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung
Referat Z.3 - Personal
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
www.bam.de

Wir weisen darauf hin, dass die von Ihnen übersandten Bewerbungsunterlagen ausschließlich zum Zwecke des Auswahlverfahrens gespeichert und bearbeitet werden. Nach Abschluss des Auswahlverfahrens werden die Unterlagen unter Beachtung der datenschutzrechtlichen Bestimmungen gelöscht.

Fachliche Fragen zu dieser Position beantwortet Ihnen gerne Herr Dr. W. Unger (+49 30 8104-1823) oder per E-Mail wolfgang.unger@bam.de eingeholt werden.

Die BAM verfolgt das Ziel der beruflichen Gleichstellung von Frauen und Männern. Bewerbungen von Frauen begrüßen wir daher besonders. Anerkannt schwerbehinderte Menschen werden bei gleicher Eignung bevorzugt berücksichtigt.