Position

Wissenschaftliche Mitarbeiterin oder Wissenschaftlichen Mitarbeiter (Master oder Diplom) der Fachrichtungen Chemie, Physik, Material- oder Nanowissenschaften

Bewerbungsfrist

25.06.2017

Kennziffer

83/17-6.1

Vergütung

TVöD

Befristung

unbefristet

Ort


Unter den Eichen 87
12205 Berlin

Fachbereich Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie

Der Fachbereich 6.1 „Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie“ in Berlin-Steglitz sucht zum 01.10.2017 eine/n

Wissenschaftliche Mitarbeiterin oder Wissenschaftlichen Mitarbeiter (Master oder Diplom) der Fachrichtungen Chemie, Physik, Material- oder Nanowissenschaften
Entgeltgruppe E 14 TVöD, Vollzeit

Aufgabengebiet:
Ihr Aufgabengebiet umfasst die selbständige und verantwortliche Entwicklung und Anwendung von neuen Methoden der Oberflächenanalytik mit der Auger-Elektronenspektroskopie (AES) und Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) im Rahmen des Themenfeldes „Analytical Sciences“. Sie werben dazu F&E-Projekte ein, führen diese eigenverantwortlich durch und betreuen Doktoranden. Ein weiterer Schwerpunkt Ihres Tätigkeitsfeldes ist die Mitarbeit in der Surface Analysis Working Group der internationalen Meterkonvention (CCOM/BIPM) und damit verbunden auch im Europäischen Metrologieprogramm EMPIR, wo drittmittelfinanzierte F&E-Projekte einzuwerben und durchzuführen sind. Darüber hinaus arbeiten Sie im Bereich der o.g. Analyseverfahren aktiv an der Normung (DIN, ISO) dieser Verfahren mit. Es obliegen Ihnen die Aufgaben eines Prüfleiters im akkreditierten Prüflabor, die Entwicklung und Pflege von Standardarbeitsanweisungen, die Geräteverantwortung für die AES und SIMS Größtgeräte im Fachbereich sowie die Akquisition und Bearbeitung von externen und internen Prüfaufträgen.
Ihre Forschungsergebnisse dokumentieren Sie in Form von Berichten, Publikationen sowie Präsentationen und wirken im fachübergreifenden Austausch auf internationaler Ebene mit.

Anforderungsprofil:
Sie verfügen über ein erfolgreich abgeschlossenes wissenschaftliches Hochschulstudium der Fachrichtungen Chemie, Physik, Material- oder Nanowissenschaften sowie einschlägige Promotion und Berufserfahrung. Darüber hinaus besitzen Sie vertiefte Kenntnisse in den Bereichen Auger-Elektronenspektroskopie oder Sekundärionen-Massenspektroskopie. Des Weiteren können Sie Publikationen im relevanten Forschungsgebiet sowie sehr gute Präsentationsfähigkeiten vorweisen. Zudem verfügen Sie über Erfahrungen im Management von Drittmittelprojekten und Einwerben von Drittmitteln sowie über übergreifende Kenntnisse in chemischer Oberflächenanalytik und der entsprechenden Metrologie. Sie bringen gute Englischkenntnisse mit und arbeiten selbständig und eigenverantwortlich. Hohes Engagement, Teamfähigkeit, Organisations- und Kommunikationsfähigkeit mit internen und externen Partnern zeichnen Sie aus.

Fachbezogene Auskünfte können telefonisch bei Herrn Dr. W. Unger unter (030) 8104-1823 oder per Email wolfgang.unger@bam.de eingeholt werden.

Anerkannt schwerbehinderte Menschen werden bei gleicher Eignung bevorzugt berücksichtigt; von ihnen wird nur ein Mindestmaß an körperlicher Eignung verlangt.

Sind Sie interessiert? Dann freuen wir uns auf Ihre Bewerbung.

Eine Bewerbung per E-Mail ist erwünscht. Bitte senden Sie diese bis zum 25. Juni 2017 unter Angabe der Kennziffer 83/17 – 6.1 an: bewerbung@bam.de. Der E-Mail fügen Sie bitte Ihre aussagekräftigen Bewerbungsunterlagen in Form einer zusammengefassten Datei im PDF-Format (max.20 MB) bei. Alternativ können Sie Ihre Bewerbung auch per Post an folgende Anschrift senden:

Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung
Referat Z.3 - Personal und berufliche Ausbildung
Unter den Eichen 87
12205 Berlin

Wir weisen darauf hin, dass die von Ihnen übersandten Bewerbungsunterlagen ausschließlich zum Zwecke des Auswahlverfahrens gespeichert und bearbeitet werden. Nach Abschluss des Auswahlverfahrens werden die Unterlagen unter Beachtung der datenschutzrechtlichen Bestimmungen gelöscht.