Nanocharakterisierung
Nano-Referenz-Messverfahren werden im Zuge der Regulation von Nanomaterialien unter REACH immer wichtiger in der EU. Die BAM hat viele Messverfahren vor Ort zur Verfügung, bedient durch hochqualifiziertes Personal, welches mit Expertenwissen die Messverfahren mit hoher Präzision und Richtigkeit nutzt und weiter entwickelt. Schwerpunkte bei der genauen Charakterisierung von Nanomaterialien bilden aktuell die Bereiche Form und Morphologie, Größenverteilung, spezifische Oberfläche, chemische Zusammensetzung und Oberflächenchemie. Die BAM-interne Instrumententeilung wird hierin integriert, wodurch die gemeinsame Nutzung einer wachsenden Anzahl an Instrumenten und Techniken ermöglicht wird. In diesem Rahmen sind derzeit bereits fast 30 Techniken unter einem gemeinsamen Regelkatalog zum Vorteil aller Beteiligten verfügbar.
Es ist notwendig, Messprinzipien, Möglichkeiten und Grenzen der Verfahren genau zu kennen und über die metrologische Rückführbarkeit die Messergebnisse zu qualifizieren. Gerade im anspruchsvollen Nanometer-Bereich gilt die Devise ‚eine Methode ist keine Methode‘.
Grafik: Nanopartikel im Elektronenmikroskop
Quelle: BAM Fachbereich Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie
Momentan stehen u.a. folgende Techniken zur Verfügung:
- Bildgebende Verfahren (AFM (IR-AFM, EC-AFM), μ-CT, electron microscopy (EM))
- Beugungs- und Streumethoden (SAXS/WAXS, XRD, DLS)
- Spektroskopische und chromatografische Verfahren (XPS, IR / Raman, ICP-MS, GC)
- Andere Methoden (DSC (sowohl flash-DSC als auch normale DSC), dynamische mechanische Analyse)
Weitere Aktivitäten im Bereich nanoCharakterisierung beinhalten die Entwicklung fortgeschrittener Analysemethoden, korrelative Datenanalyse und gemeinschaftliche Entwicklung von Mess- und Probendatenbanken für das Datenmanagement.
Im Hintergrundpapier nanoCharakterisierung finden Sie Informationen zu den Aspekten:
- Wozu wird charakterisiert?
- Was wird charakterisiert?
- Womit wird charakterisiert?