25.08.2017
Internationale Ellipsometrie-Konferenz ICSE-7 im Juni 2016: Dr. Andreas Hertwig vom Fachbereich Oberflächenmodifizierung und Oberflächenmesstechnik bei seinem Vortrag. Er wirkte als als Managing Guest Editor an dem Sonderband der Tagung mit.

Internationale Ellipsometrie-Konferenz ICSE-7 im Juni 2016: Dr. Andreas Hertwig vom Fachbereich Oberflächenmodifizierung und Oberflächenmesstechnik bei seinem Vortrag. Er wirkte als als Managing Guest Editor an dem Sonderband der Tagung mit.

Quelle: BAM

Nachdem die BAM in Zusammenarbeit mit dem Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften (ISAS) Berlin im vergangenen Jahr die wichtigste internationale Konferenz auf dem Gebiet der Ellipsometrie (ICSE-7) veranstaltet hat, ist nun der Sonderband zur Konferenz in der Zeitschrift Applied Surface Science erschienen. Vom Fachbereich Oberflächenmodifizierung und Oberflächenmesstechnik wirkte Dr. Andreas Hertwig an dieser Publikation als Managing Guest Editor mit.

Frontcover des SI-ICSE-7

Frontcover des SI-ICSE-7

Quelle: Elsevier

Von den knapp 350 Besucherinnen und Besuchern der Konferenz wurden insgesamt 126 Manuskripte eingereicht, von denen schließlich 100 in den Proceedings-Band aufgenommen wurden. Die hohe Qualität der publizierten Artikel wurde in Zusammenarbeit mit dem Redaktionsteam von Applied Surface Science durch das im Wissenschaftsbetrieb gängige Peer-to-Review-Verfahren sichergestellt – ein für Konferenz-Sonderbände nicht zwingend üblicher Prozess, der den hohen Anspruch widerspiegelt, der in diesem Feld an Publikationen gestellt wird.

Ohne Ellipsometrie keine moderne Technik

Ellipsometrie ist ein Verfahren zur optischen Charakterisierung von Oberflächen mit polarisiertem Licht. Es wird vielfältig vor allem in der Mikroelektronik und Optik eingesetzt. Ohne diese Messtechnik gäbe es viele heute alltägliche Dinge nicht, z.B. Mobilfunk, effiziente Photovoltaik, moderne Computer.

Ellipsometrie wird seit mehr als 20 Jahren an der BAM verwendet, um Oberflächen und dünne Schichten zu charakterisieren. Die BAM arbeitet dabei eng mit lokalen Partnern wie dem ISAS und der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) zusammen. ISAS und BAM bewarben sich vor diesem Hintergrund gemeinsam erfolgreich um die Ausrichtung der ICSE-7 in Berlin, nachdem die Tagung 2013 in Kyoto, 2010 in Albany, 2007 in Stockholm, 2003 in Wien, 1997 in Charleston und 1993 in Paris stattfand. Die Herausgabe des Proceedings-Bandes schließt dieses Kapitel nun ab und die Berliner Ellipsometriker freuen sich auf die nächste ICSE in Barcelona 2019.