23.06.2017
Zu Gast im KRISS: Dr. Wolgang Unger (mitte) mit Ansoon Kim (PhD, links) und Kyung Joong Kim (PhD, rechts) von der Division of Industrial Metrology. Im Hintergrund zu sehen ist ein neues Photoelektronenspektrometer für die chemische Oberflächenanalyse.

Zu Gast im KRISS: Dr. Wolgang Unger (mitte) mit Ansoon Kim (PhD, links) und Kyung Joong Kim (PhD, rechts) von der Division of Industrial Metrology. Im Hintergrund zu sehen ist ein neues Photoelektronenspektrometer für die chemische Oberflächenanalyse.

Quelle: KRISS

Das Korean Research Institute of Standards and Science (KRISS) hat die BAM eingeladen, an der Bewertung seiner Arbeitsqualität als Nationales Metrologisches Institut mitzuwirken. An dieser Bewertung nehmen international renommierte Expertinnen und Experten teil. Für die BAM ist deshalb Dr. Wolfgang Unger, Leiter des Fachbereiches Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie, im Juni nach Korea gereist. Er ist zugleich Vorsitzender der Arbeitsgruppe für Oberflächenanalysen im Komitee für chemisches Messwesen des Internationalen Büros für Maß und Gewicht. Dieses Büro – auch als Meterkonvention bekannt – wurde auf der Grundlage des internationalen Abkommens zur einheitlichen Definition von Maßeinheiten begründet und koordiniert die Darstellungen der Einheitennormale, z. B. einer Sekunde oder eines Kilogramms. Mit ihrer Expertise auf dem Gebiet der chemischen und morphologischen Analyse von technischen Oberflächen mittels hochpräziser Verfahren ist die BAM eine wissenschaftlich geschätzte Gutachterin zur Beurteilung der entsprechenden Kalibrier- und Messfähigkeiten des KRISS im Bereich der Oberflächenanalytik einschließlich benötigter Referenzmaterialien.

Die Kompetenz der BAM als Konformitätsbewertungsstelle und beauftragtes Institut im Rahmen der Meterkonvention wird regelmäßig und unabhängig durch die Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS) überprüft. So wurde die BAM unter anderem nach DIN ISO 17025 zertifiziert. ISO/IEC 17025 ist der weltweite Qualitätsstandard für Prüf- und Kalibrierungslabors. Das KRISS geht für seinen Qualitätsnachweis einen anderen, im Abkommen zur Meterkonvention ebenfalls zugelassenen Weg: den des Peer Review durch unabhängige Gutachter desselben Fachgebietes aus anderen Nationalen Metrologischen Instituten und deren Netzwerkmitgliedern. In Deutschland ist die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) das Nationale Metrologische Institut und die BAM ist Netzwerkmitglied auf dem Gebiet des chemischen Messwesens.

BAM ist deutschlandweit führend in der chemischen Mikrobereichs- und Oberflächenanalytik

Im Fachbereich von Dr. Wolfgang Unger werden Oberflächen von Materialien bis ins allerkleinste Detail analysiert und die Analysemethoden fortwährend verfeinert. Unter anderem können die Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler dünne Siliziumoxid-Schichten auf Silizium vermessen, die dünner als ein Nanometer sind. Sie können auch die genaue Zusammensetzung von nanoskaligen Legierungsschichten wie etwa 50 nm dünnen Eisen/Nickellegierungen angeben, die z. B. im Bereich der Fertigung von Massendatenspeichern eine Rolle spielen. Zum Vergleich: Das menschliche Haar hat einen Durchmesser von etwa 60 bis 80 Mikrometern. Mit ihrer Expertise auf dem Gebiet der Oberflächenanalytik leistet die BAM wichtige Forschungsarbeit für die kontinuierliche Verbesserung von Materialien, die für den Korrosions- und Verschleißschutz entwickelt werden, sowie für immer präzisere Analysemethoden zur Anwendung in Mikro- und Nanotechnologien.