Mikro-ZfP

Der Fachbereich entwickelt und bewertet zerstörungsfreie Prüfverfahren für den Nachweis von Strukturen und Fehlern im Mikrometerbereich und darunter. Die systematische Entwicklung, Anwendung und Validierung solcher Methoden hat zum Ziel, die zerstörungsfreie Prüfung sicherheitsrelevanter Komponenten und Strukturen zu fördern und den Einsatz bei Mikrosystemen zu erweitern.

Themenfelder

• Computertomographie
• Röntgentopographie

Schwerpunkte

• Entwicklung und Validierung von tomographischen Verfahren mit Röntgen-, Gamma- und Synchrotronstrahlung und deren Standardisierung
• Entwicklung von 3D-Messverfahren und Rekonstruktionsalgorithmen
• Röntgen-, Textur-, Refraktions- und Phasentopographie zur zerstörungsfreien Charakterisierung von Werkstoffen
• Einsatz von Computertomographie zur Untersuchung von Mikrostrukturen und Schadensanalyse
• Entwicklung von Referenzmaterialien und Standards für die Charakterisierung von CT-Verfahren
• Akkreditierung, Gutachten, Referenzverfahren

Gerätetechnik und Untersuchungsmethoden

• Anlagen für tomographische Untersuchungen mit Röntgen-, Gamma- und Synchrotronstrahlung in einem breiten Energiebereich (5 keV -12 MeV)
• Röntgen-Feinstruktur-Einrichtungen für die kristallographische Raster-Topographie
• BAMline Synchrotron-Messplatz für die zeit- und energieauflösende Materialcharakterisierung
• ZfP-spezifische Bildverarbeitungssysteme
• 2D- und 3D- Rekonstruktionsverfahren
• Cluster-Rechner für Rekonstruktionsprogramme und Bildverarbeitung

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