Fachgruppe 5.1
Modell: Wild Leitz M3Z
Stereobetrachtung und fotografische Dokumentation von Proben und Schliffen im Vergrößerungsbereich von ca. 2:1 bis 40:1.
Modell: Reichert MeF 3A
Betrachtung und Aufnahme von Schliffen im Vergrößerungsbereich von ca. 8:1 bis 1500:1, Hellfeld, Dunkelfeld, polarisiertes Licht, Dicken-Interferenz-Kontrast, integrierte Mikrohärteprüfung.
Modell: Zeiss Axioplan 2/Axiophot 2
Betrachtung und Aufnahme von Schliffen im Vergrößerungsbereich von ca. 10:1 bis 1500:1, Hellfeld, Dunkelfeld, Dicken-Interferenz-Kontrast.
Modell: Leica ICM 1000
Qualitative und quantitative 3D-Analyse unebener Oberflächen im lichtmikroskopischen Bereich, wie sie bei Brüchen und Verformungsvorgängen erscheinen.
Modell: CamScan 2
Große Probenkammer, Rückstreuelektronen-Detektor, EDX-Detektor.
Rasterelektronenmikroskop (SEM)
Modell: LEO Gemini 1530 VP
Das analytische REM ist zur Oberflächenabbildung von Bauteilen unterschiedlicher Materialien geeignet. Das Gerät erlaubt Abbildungen im Bereich von einigen mm bis hin zu nm-kleinen Objekten. Durch Kombination von Beugungsverfahren (EBSD) sind neben der reinen Abbildung auch Aussagen zur Kristallorientierung möglich. Aus der Kombination mit EDX (chemisch Zusammensetzung) lassen sich Phasen identifizieren als auch deren lokale Verteilung beschreiben.
Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Modell: JEOL 4000FX
Ein analytisches TEM erlaubt eine umfassende Charakterisierung verschiedenster Materialien. Bis in nm-Dimensionen können sowohl Elementanteile als auch Elektronenbeugungs-Informationen gewonnen werden.
Aus der Kombination dieser Ergebnisse mit verschiedenen Abbildungsverfahren, gelingt es, Phasenanteile bestimmen zu können und morphologischen Einheiten zuzuordnen, Größen festzustellen oder Entmischungen und Verarmungen zu erfassen.
Modell: FEI Strata 200xP
Gezielte Herstellung von Schnitten im nanoskaligen Bereich für TEM- und REM-Untersuchungen, TEM-Lamellen: "lift out"- oder konventionelle FIB-Technik.
Definierter Materialabtrag an Mikrosystemtechnikteilen (z.B. AFM-Cantilever): Aufbringen von Markierungen (Kreuze, Gräben, Löcher etc.) SE-Abbildung von Nanolagen möglich Materialpalette äußerst vielfältig.
Modell: Jeol JXA8900RL
Die Elektronenstrahl-Mikrosonde erlaubt folgende qualitative und quantitative Analysen:
Sie verfügt über:
Verwendet wird das Gerät hauptsächlich zur Phasenanalyse, zur Orientierungsbestimmung von (technisch) einkristallinen Proben, zur Texturanalyse, zur Eigenspannungsbestimmung und zur Phasenanalyse.
Die Bewegung der Probe kann völlig unabhängig in den Achsen c, j, w, q erfolgen. Die Messstelle kann durch einen X-Y-Tisch festgelegt werden, die Positionierung in Z erfolgt manuell. Messungen unter streifendem Einfall sind möglich.
Die Laue-Kamera wird standardmäßig zur Orientierungsbestimmung von kubischen Einkristallen eingesetzt.
Modell: Struers Accutom 5
Automatische Präzisions-Trennmaschine.
Modell: Struers Minitom
Kleine automatische Präzisions-Trennmaschine
Modell: Opal 450
Einbetten von Proben bis 50 mm Durchmesser für randscharfe metallographische Schliffe
Modell: Phoenix 4000
Zweispindlig, Durchmesser 300 mm
Modell: Gatan 682 HA
Ätzen und Sputtern von Proben für die Elektronenmikroskopie mit Hilfe eines Ionenstrahls.
Modell: Hommel-Tester 2000
Normgerechte Bestimmung von Rauheits- und Welligkeitskennwerten von Bauteilen.
Modell: AccuPyc 1330 (rechts) mit elektronischer Analysenwaage
Modell: Sartorius Basic-Plus (BP 210 D-OCE, links).
Die Fachgruppe 5.1 verfügt über verschiedene Öfen z.B. für die Durchführung von Wärmebehandlungen.
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Fachgruppe 5.1
Dir. u. Prof.
Dr. rer. nat.Sekretariat
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-1519
Fax:
+49 30 8104-1517
Werkstoffe und Bauteile der Energietechnik
Lokale Phasenanalyse und Alterungsmechanismen
Nanocharakterisierung von Werkstoffen
Kompetenzbestätigung/ Akkreditierung