Prüfeinrichtungen

Totalreflektions-Röntgenfluoreszenzanalyse

Probenträger für die Totalreflektions-Röntgenfluoreszenzanalyse

Die TXRF ist eine sehr sensitive Analysentechnik für Elementuntersuchungen im Picogramm-Bereich, mit der sowohl Übersichtsanalysen als auch quantitative Analysen kleinster Probenmengen durchgeführt werden können.

Bei der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektrometrie (TXRF) wird der anregende Röntgenstrahl in einem sehr flachen Einfallswinkel eingestrahlt. Die daraus resultierende geringe Eindringtiefe der Röntgenstrahlung von nur wenigen Nanometern bewirkt ein sehr gutes Signal-Rausch-Verhältnis, da Wechselwirkungen mit dem Trägermaterial der Probe nicht stattfinden.

Technische Daten

Gerät
FEI TXRF 8030C der Firma Atomika

Matrices
Metalle, Kunststoffe, Mineralölprodukte, Oxide, Salze, Keramiken, Holz, Böden, Wässer, Abwässer (nach mechanischer und/oder chemischer Probenpräparation)

Probenbeschaffenheit
Messung der in Lösung gebrachten Probe, oder feste Proben mit planer Ober-fläche mit einem Durchmesser < 3 cm

Analytischer Bereich
Titan bis Uran

Messarten
Übersichtsanalysen, qualitative Analysen und (semi-)quantitative Analyse der Elemente

Nachweisgrenzen
Im Picogramm-Bereich für die meisten Elemente

Weiteres
Probenvorbereitungen wie Probennahme, das Auflösen der Probe (Nassaufschluss, Schmelzaufschluss, Mikrowellenaufschluss) werden nach Absprache ausgeführt.

Fachbereich 1.4 | Anorganische Prozessanalytik - Röntgenfluoreszenzanalyse | Prüfeinrichtungen der BAM

2012-04-25

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