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Fachthemen

Referenzverfahren

Prüftechnik und chemische Analytik

Verzeichnis der von der BAM bereitgestellten Referenzverfahren

Kapitel 8 - Prüfung von Oberflächen- und Schichteigenschaften

Elektronenspektroskopie für die chemische Oberflächenanalytik (ESCA / XPS): Bestimmung von SiO2-Schichtdicken auf Silicium (PDF)
Spektroskopische Ellipsometrie zur spektralen Bestimmung von optischen und dielektrischen Materialkenngrößen sowie von Schichtdicken (PDF)
Bestimmung des Gehaltes an organischen Siliziumverbindungen auf Elastomeroberflächen (PDF)
Ermittlung von Einzellagendicken von Mehrlagen-Schichtsystemen im Mikro- und Nanometerbereich (PDF)
Instrumentierte Eindringprüfung zur Bestimmung der Härte und weiterer plastisch-elastischer Materialkennwerte (PDF)
Multi-Sonden-Topographie-Analyse (PDF)

Verzeichnis der Referenzverfahren

Referenzverfahren | Fachthemen

2010-10-25

Ansprechpartner

Dr. rer. nat.
Martina Hedrich
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-1941
E-Mail:
Martina.Hedrich@bam.de

Dipl.-Ing.
Arne Nymschefsky
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-3773
E-Mail:
Arne.Nymschefsky@bam.de